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    LIBS-E900實(shí)驗(yàn)版LIBS分析系統(tǒng)zolix

    產(chǎn)品型號(hào): LIBS-E900
    品  牌: zolix
    • ≧1 臺(tái)
      ¥600000.00
    所 在 地: 北京通州區(qū)
    更新日期: 2025-06-04
    詳細(xì)信息
     品牌:zolix  型號(hào):LIBS-E900   
    LIBS-E900實(shí)驗(yàn)室版LIBS分析系統(tǒng)產(chǎn)品概述
    簡介
    激光誘導(dǎo)擊穿光譜實(shí)驗(yàn)是通過超短脈沖激光聚焦樣品表面形成等離子體,對(duì)等離子體發(fā)射光譜進(jìn)行分析來確定樣品的物質(zhì)成分及含量。超短脈沖激光聚焦后能量密度較高,可以將任何物態(tài)(固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài))的樣品激發(fā)形成等離子體,LIBS技術(shù)(原則上)可以分析任何物態(tài)的樣品,僅受到激光的功率以及探測(cè)光譜儀的靈敏度和波長范圍的限制。幾乎所有的元素被激發(fā)形成等離子體后都會(huì)發(fā)出特征譜線,因此,LIBS可以分析大多數(shù)的元素。
    基本原理
    基本原理為高能量激光聚焦到待測(cè)樣品表面,燒蝕樣品激發(fā)產(chǎn)生等離子體,通過采集裝置將等離子體輻射光傳輸?shù)焦庾V儀進(jìn)行分光,并通過光電探測(cè)器實(shí)現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換后獲得光譜。*后,研究學(xué)者在計(jì)算機(jī)中根據(jù)等離子體發(fā)射光譜的波長和強(qiáng)度可分析得到待測(cè)樣品的元素組成及含量。
    LIBS-E900實(shí)驗(yàn)室版LIBS分析系統(tǒng)產(chǎn)品介紹
    產(chǎn)品參數(shù):
    • 探測(cè)波段范圍:200-900nm(其他波段可選),全國產(chǎn)iCMOS相機(jī)
    • 光學(xué)分辨率:<0.1nm,更小值可選
    • *短門控:3ns,采用全國產(chǎn)iCMOS相機(jī)
    • 延遲與門控精度:10ps
    • 激光器能量:50、100、200、400mj等可選
    • 波長重復(fù)精度:0.01nm
    • 三維位移臺(tái):行程 可選
    • 支持定制真空腔光路,樣品氣體吹掃等功能
    • 光譜顯示(峰值、半高寬)、譜線識(shí)別、文件自動(dòng)保存
    • 自動(dòng)聚焦功能
    • Mapping功能
    • 樣品圖像實(shí)時(shí)顯示
    產(chǎn)品特色:
    • 完整、安全的外罩設(shè)計(jì),便于運(yùn)輸和現(xiàn)場開箱即用。
    • 同軸、異軸硬件框架設(shè)計(jì),靈活適配科研實(shí)驗(yàn)需求。
    • 依照不同的實(shí)驗(yàn)室測(cè)量精度要求可靈活搭配激光器、光譜儀以及快速門控相機(jī)
    • 基于激光和視覺算法的自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),對(duì)樣品表面實(shí)時(shí)跟蹤實(shí)現(xiàn)LIBS的自動(dòng)跟焦和Mapping。
    • 軟件界面突出Mapping和定量元素分析的特色,實(shí)時(shí)顯示元素Mapping分布圖。
    軟件測(cè)試界面
    簡潔的操作頁面,無需繁瑣的設(shè)計(jì),一個(gè)按鍵可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試。
    強(qiáng)大的視覺功能,可實(shí)現(xiàn)Mapping圖,并自動(dòng)完成譜圖生成,并對(duì)樣品元素成分分布進(jìn)行偽色彩區(qū)分顯示。
    接口豐富性,可接入不同數(shù)據(jù)庫,從而達(dá)到數(shù)據(jù)的高強(qiáng)度兼容。

    應(yīng)用領(lǐng)域
    • 礦產(chǎn)(煤質(zhì)分析)、冶金、爐渣等金屬物質(zhì)的成分探測(cè)
    • 土壤、大氣、水體等環(huán)境中重金屬元素分析測(cè)量
    • 地質(zhì)、考古等領(lǐng)域的年代分析
    • 生物領(lǐng)域的細(xì)胞、皮膚,癌細(xì)胞等生物組織的成像應(yīng)用 
    推薦搭配
    • 顯微鏡模塊,用于微觀樣品的測(cè)量以及分析
    • 拉曼模塊,用于多樣的化學(xué)、材料等領(lǐng)域分析
    • 熒光模塊,不同熒光波段的光譜測(cè)試應(yīng)用
    • Mapping模塊,用于整體樣品的測(cè)試與部分區(qū)域的差異化分析 
    可升級(jí)功能
    • Raman光譜與Mapping
    • 門控Raman光譜
    • 可通過購買端口接入某大廠數(shù)據(jù)庫進(jìn)行元素分析識(shí)別
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