當(dāng)你的 VR 眼鏡出現(xiàn)模糊時(shí)， 問題可能藏在納米級(jí)光柵里

消費(fèi)者抱怨 AR 設(shè)備畫面不清晰？ 工業(yè)質(zhì)檢員反復(fù)校準(zhǔn)色度計(jì)？這些問題的根源往往指向光柵元件的微觀缺陷——

納米級(jí)的周期誤差  可導(dǎo)致意想不到的光線傳輸

K 矢量畸變  引發(fā)光線傳播串?dāng)_，造成成像模糊 、色偏

傳統(tǒng)接觸式測(cè)量  劃傷鍍膜層 、精度低 、無法精確測(cè)試 K 矢量卓立光柵測(cè)試系統(tǒng) ，重新定義納米級(jí)光柵器件的質(zhì)量基線

設(shè)備內(nèi)部實(shí)拍

一 、 Littrow 結(jié)構(gòu)+糾偏算法 ：破解衍射光柵的"基因密碼"

Littrow 結(jié)構(gòu)示意圖

▌λ/10000--0.02nm 級(jí)光柵周期解析精度

基于 Littrow 自準(zhǔn)式入射結(jié)構(gòu)， 系統(tǒng)通過精密調(diào)整入射角與衍射光強(qiáng)反饋， 實(shí)現(xiàn) 0.02nm 級(jí) 光柵周期測(cè)試靈敏度 。相較傳統(tǒng)透射電子顯微鏡 、 原子力顯微鏡分析法， 分辨率提升 100倍。

▌0.005° --K 矢量高精度測(cè)試

獨(dú)*算法實(shí)時(shí)解算光柵面內(nèi) K 矢量角度， K 矢量精度可達(dá) 0.005° ,   全面監(jiān)測(cè)光柵器件面內(nèi) K 矢量異常 。某 AR 光波導(dǎo)客戶借此將產(chǎn)品調(diào)試周期從 48 小時(shí)縮短至 6 小時(shí)。

▌支持多種光柵參數(shù)測(cè)試

光柵測(cè)試系統(tǒng)支持多類型光柵測(cè)試，包括 ：閃耀光柵、反射全息光柵、透射全息光柵和布拉 格體全息光柵等 。助力 VR 、AR 行業(yè)客戶 。（實(shí)際使用請(qǐng)咨詢）

二、硬核技術(shù)矩陣：實(shí)驗(yàn)室精度，工業(yè)級(jí)可靠性

卓立四軸軸微米級(jí)定位系統(tǒng)

位移軸光柵尺反饋，重復(fù)定位精度±3μm，閉環(huán)分辨率：1μm

旋轉(zhuǎn)軸光柵尺反饋，重復(fù)定位精度±0.003°，閉環(huán)分辨率：0.000152°

支持Φ254mm 超大光柵片全域 mapping，40s 完成單點(diǎn)測(cè)量，較手動(dòng)調(diào)節(jié)效率提升 50 倍。

光柵 mapping 結(jié)果

三、從實(shí)驗(yàn)室到產(chǎn)線：全場(chǎng)景解決方案

科研模式

開放 API 接口，支持自定義測(cè)量 Recipe，支持自定義數(shù)據(jù)處理。

工業(yè)模式

真空吸附，自動(dòng)上下料，無縫對(duì)接 MES/QMS 系統(tǒng)，全自動(dòng)檢測(cè)

四 、 系統(tǒng)關(guān)鍵參數(shù)一覽表

單點(diǎn)周期重復(fù)精度	≤0.02nm
單點(diǎn)周期絕對(duì)精度	≤ ±0.1nm
單點(diǎn)光柵面內(nèi)矢量角絕對(duì)精度	≤±0.01°
單點(diǎn)光柵面內(nèi)矢量角重復(fù)精度	≤±0.005°
單點(diǎn)測(cè)試時(shí)間	45s
可測(cè)光柵類型	反/透全息光柵 、 閃耀光柵 、全息體光柵
可測(cè)光柵尺寸	小于 8 英寸（支持定制）

 

五 、全面的軟件功能 ，友好的軟件界面

六 、完整與快速的服務(wù)網(wǎng)絡(luò)

資質(zhì)認(rèn)證 ：卓立漢光以自主研發(fā)為核心，深耕光電儀器領(lǐng)域 26 年，公司布局全球化市場(chǎng) 通過高精度產(chǎn)品和定制化解決方案，服務(wù)于高校、科研院所及工業(yè)客戶，助力光電領(lǐng)域的技術(shù)探索

服務(wù)保障 ：技術(shù)和服務(wù)團(tuán)隊(duì)超 300 人，在上海 、深圳 、北京 、成都 、西安 、長(zhǎng)春 、鄭州有限分公司，提供“終身保固”承諾，確保產(chǎn)品可靠性與售后服務(wù)響應(yīng)速度。